Nikon 將推出超分辨率顯微鏡N-SIM

 Nikon 將推出超分辨率顯微鏡N-SIM

在生命科學領域，研究者們一直想要看清更加細微的組織，因此，光學顯微鏡誕生了。但是，如果我們要觀察的物體，如蛋白分子簇，當物體之間的距離小于200nm的時候，光學顯微鏡就無法將兩個點分開，這種時候就需要使用其他的儀器，如電子顯微鏡。
   Nikon即將推出的超高分辨率熒光顯微鏡，這一新型顯微鏡能夠提供比傳統光學顯微鏡更高的分辨率，使用者可以觀察到微米級及納米級的結構。Nikon的這款名為N-SIM的顯微鏡采用California大學的結構照明顯微術（StructuredIllumination Microscopy ，SIM）以得到更高的分辨率。
    Nikon公司在美國49年度細胞生物學會上展示了這款超高分辨率顯微鏡。在相同的條件下，N-SIM的分辨率是傳統顯微鏡的2倍。SIM技術由California 大學的by Mats G.L. Gustafsson, PhD,John W. Sedat, PhD and David A. Agard, PhD三人共同研發。
   除了超高分辨率，這款顯微鏡具有許多其它特性，如0.6秒/幀的快速掃描，及與TIRF聯合的TIRF-SIM照明技術——這一技術可以得到比傳統TIRF更高的分辨率及更為精細的細胞膜區域結構信息。
    Nikon 官方稱超高分辨率顯微鏡N-SIM將于2010年5月上市。